美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質和厚度均勻而嚴格生產，*的柔韌性和抗化學腐蝕性，保證檢測結果的可靠性和重現性，被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。4.0μm美國*樣品薄膜TF-240

美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質和厚度均勻而嚴格生產，*的柔韌性和抗化學腐蝕性，保證檢測結果的可靠性和重現性，被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。6.0μ美國*樣品薄膜 TF-260

美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質和厚度均勻而嚴格生產，*的柔韌性和抗化學腐蝕性，保證檢測結果的可靠性和重現性，被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 檢測實驗光譜儀耗材薄膜TF-160-2510

美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質和厚度均勻而嚴格生產，*的柔韌性和抗化學腐蝕性，保證檢測結果的可靠性和重現性，被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 檢測實驗光譜儀耗材薄膜TF-160-3410

美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質和厚度均勻而嚴格生產，*的柔韌性和抗化學腐蝕性，保證檢測結果的可靠性和重現性，被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 檢測實驗光譜儀耗材薄膜TF-160-255

美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質和厚度均勻而嚴格生產，*的柔韌性和抗化學腐蝕性，保證檢測結果的可靠性和重現性，被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。檢測實驗光譜儀耗材薄膜TF-160