較常用的光譜儀（薄膜）樣品杯SC-3345

XRF樣品測試杯規格、射線熒光樣品器、土壤樣品杯、美國Premier樣品杯SC-3345

一、美國Premier XRF樣品杯：

  美國Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領域，以高質量和全面的X射線的樣品制備產品線享譽。

  Premier XRF樣品杯能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。

     為了對樣品杯與XRF儀器提供的樣品夾持設備（金屬樣本杯、旋轉盤、滑動平臺、固定臺等）進行匹配，購買樣品杯前請告知您使用過的樣品杯型號(CAT. NO)，或X熒光光譜儀品牌和型號，或請直接測量儀器樣品夾持設備的內徑、高度和孔徑。

品名：XRF樣品杯Sample Cups

      型號： CAT. NO SC-3345

      品牌：美國Premier Lab （*）

      貨期：現貨

      起訂量：1包以上（100個/包）。

二、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。

美國Premier樣品杯SC-3345  

CAT. NO       高      內徑       外徑    容積    數量

SC-3345       40mm    37mm     45mm     40mL     100個/包

常用的光譜儀(薄膜）樣品杯SC-3345

常用的光譜儀(薄膜）樣品杯SC-3345