X射線熒光光譜儀薄膜TF-115

簡要描述：美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴格生產(chǎn)，*的柔韌性和抗化學腐蝕性，保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X射線熒光光譜儀薄膜TF-115

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更新時間：2024-05-15
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mylar膜/聚丙烯膜、日本理學/島津/斯派克、EDX邁拉膜/XRF測試薄膜、美國Premier樣品膜-TF-115

品名：XRF樣品膜Sample Film

型號：TF-115

品牌：美國Premier Lab (*）

貨期：現(xiàn)貨

起訂量：1盒以上。

美國Premier XRF樣品膜：

美國Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領(lǐng)域，以高質(zhì)量和全面的X射線的樣品制備產(chǎn)品線享譽。

美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴格生產(chǎn)，*的柔韌性和抗化學腐蝕性，保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。

X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。

適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。

目錄編號：

CAT. NO 薄膜材料厚度長度數(shù)量描述

TF-115 Mylar邁拉膜 1.5μ(0.06mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Mylar®Rolls連續(xù)卷軸

X射線熒光光譜儀薄膜TF-115

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